Bruker’s Dimension® Icon™原子力顯微鏡（AFM）系統引進新的性能，功能和AFM以用于科學和工業的納米級研究。最新Dimension系統建立在世界最廣泛應用的大范圍樣品AFM平臺的基礎上，開創了十年間技術革新、客戶反饋和工業頂級應用靈活性的高潮。這個系統從上到下的設計，顯示出革命性的低漂移低噪音性能，能夠使用戶在幾分鐘內獲得無偽影成像，而不再需要幾分鐘。Dimension Icon系統配置有專有ScanAsyst™原子成像優化技術，可以簡易地快速穩定成像，而忽略使用者的技術水平。最高級別的AFM研究從未輕松實現基本生產力收益。
● 專利傳感器設計實現了與開環噪音水平一樣的閉環性能，用于大型樣品前所未見的分辨率測試和針尖掃描AFM
● 顯著減小基底噪音，能夠在接觸模式下以原子力水平成像，TappingMode™中少于30pm
● 漂移率小于每分鐘200pm，產生無扭曲圖像
優越的生產率
● 綜合反饋對準工具帶來快速優化的探針配置
● 高分辨率相機和X-Y配置帶來快速高效的樣品導航性能
● 新型ScanAsyst成像和帶有默認試驗模式的NanoScope®軟件，將十年的知識精華融入這個預先配置設置中
優秀的多功能性
●針尖和樣品的開放性入口，可進行大量的標準
性和定制性實驗
● 儀器和軟件設計利用了所有當今和未來新進的先進的模式和技術
● 用戶實用程序腳本提供了半自動測量和分析性能
