FISCHER XUL X射線螢光測厚儀，是結合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。至于需要測量電鍍槽內(nèi)的金離子停含量的濃度也是十分簡單。FISCHER XUL X-射線螢光測厚儀具備手動的測量臺，可移動的范圍是50MM*50MM，不需要打開測量門便可以移動不同測量，更方便操作。測試方向由下向上照射的設計是只需要對準量位置，而不需要調(diào)校焦距便可以進行測量，并且由下向上的照射，操作員只需將測試面朝下，不論大小的樣品可直接放進測量室內(nèi)，不用調(diào)距離，只需對準位置，便可立即測量，這不單可以令測量更快速，還可以避免因在調(diào)校測量距離錯誤時影響計算厚度。FISCHER XUL X-射線螢光測厚儀是根據(jù)ASTM B568/ISO3497的規(guī)格進行設計的，WINFTM的控制軟件，已成為多功能及準確度高的樣板極適合對一些較小的樣板進行測量，尤其是對手表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等，。期待您的來電，鄧生 手機：13826519947