光誘導(dǎo)力顯微鏡基于原子力顯微鏡平臺(tái),通過外置激光以一定的頻率激發(fā)在探針和樣品上，探針和樣品因此受到誘導(dǎo)偶極。AFM探針可以通過頻率調(diào)制獲得樣品內(nèi)部的電子能級(jí)變化，振動(dòng)能級(jí)及轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)變化。再將頻率調(diào)制后得到的結(jié)果進(jìn)行傅立葉變化，以獲得相應(yīng)的紫外可見吸收光譜或紅外光譜。得益于探針的曲率半徑，其光譜的空間分辨率最大可達(dá)10nm。PiFM也能和拉曼光譜進(jìn)行聯(lián)用，并具備散射式掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡功能。
原子力顯微鏡-散射式掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡-紫外可見吸收光譜-紅外光譜-拉曼光譜聯(lián)用系統(tǒng)
光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscopy），同時(shí)獲得形貌以及光誘導(dǎo)力圖像
Nano-UV & Vis，最高10nm空間分辨紫外可見吸收光譜/分光光度計(jì)
Nano-IR，最高10nm空間分辨的紅外光譜
Nano Hyperspectral Imaging，納米空間分辨的高光譜（連續(xù)波段，高光譜分辨率）
s-SNOM，散射式掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
Nano-Raman/TERS，最高10nm空間分辨的針尖拉曼光譜
正置與倒置光路一體式設(shè)計(jì)，適合透明與不透明樣品
支持多種反饋方式，AFM激光反饋（OBD），AFM音叉反饋（TF）
支持紫外、可見、紅外、太赫茲波段測(cè)試
