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(1)、可對C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性、定量分析；
(2)、6款光管濾光片，更快更精確的測定微量及痕量元素；
(3)、可配備多種探測器，分辨率可低至123eV；
(4)、設計堅固、緊湊，適于移動實驗室，符合沖擊試驗MIL810E規格；
(5)、8/16位樣品盤可選；
(6)、配備集成電腦、專業nEXt?分析軟件，操作方便；
二、主要技術參數
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系統規格 |
PD 版本 |
SDD 版本 |
SDD LE |
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測量范圍 |
Na(11) - Fm (100) |
F(9) - Fm(100) |
C(6) - Fm(100) |
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測量濃度 |
ppm -100% |
次 ppm -100% |
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X-射線管靶材 |
Rh靶 (Ag/Mo/W/Pd靶) |
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X-射線管電壓/功率 |
50kV, 50W |
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激發類型 |
直接激發，有管濾光片 |
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探測器 |
電制冷的PIN二極管 |
硅漂移探測器SDD |
超級 SDD |
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分辨率(FWHM) |
155 eV ± 10eV (5.9Kev時) |
129eV ± 5eV |
123eV ± 5eV |
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自動進樣器 |
8位 |
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工作環境 |
空氣/真空/氦氣 |
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管濾光片 |
6款軟件可選 |
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操作軟件 |
nEXt?分析包(包含基礎基本參數法) |
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選配件 |
16位自動進樣器、專業基本參數法、真空泵、CCD攝像頭等 |
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三、應用領域
石油化工、冶金/合金樣品
環境、石油/燃料/柴油等
礦產地質(含稀土元素)、貴金屬檢測、法鑒
