2000年前后,國內電子、通信行業的迅猛發展,帶來電鍍行業的廣泛需求。應國際貿易和質量體系認證的需求,許多企業工廠紛紛購置了相關的鍍層厚度檢測儀器和設備,同時也帶來鍍層膜厚量值傳遞和溯源問題。經過10多年的努力, 現在的x熒光膜厚測試儀能夠準確的測量微小面積的鍍層厚度,測量精度達到納米級,已被全世界電子零部件、印制電路板、汽車零部件、各種電鍍產品生產及相關廠商廣泛使用和認可。
膜厚測試儀利用螢光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質的結晶信息(構造)。而透過X射線多用于拍攝醫學透視照片。另外也用于機場的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質信息而定X射線的種類。
X射線的能量穿過金屬鍍層的同時,金屬元素其電子會反射其穩定的能量波譜。通過這樣的原理,我們設計出:膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀,又稱金屬涂鍍層厚度測量儀,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應全球環保工藝準則,故目前市場上最普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。
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