No.

主要規格

規格描述

1

X射線激發系統

垂直上照式X射線光學系統

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

X射線管功率可編程控制

裝備有安全防射線光閘

2

濾光片程控交換系統

根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口

3

準直器程控交換系統

最多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制

多種規格尺寸準直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

5

X射線探測系統

封氣正比計數器

裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6

樣品室

CMI900

CMI950

－樣品室結構

開槽式樣品室

開閉式樣品室

－最大樣品臺尺寸

610mmx 610mm

300mmx 300mm

－XY軸程控移動范圍

標準：152.4 x 177.8mm

任選：50.8mmx 152.4mm

      50.4mm x 177.8mm

      101.6 x 177.8mm

      177.8 x 177.8mm

      610mm x 610mm

300mmx 300mm

－Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時，152.4mm

XY軸手動時，269.2mm

－XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統

高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。

激光輔助光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

7

計算機系統配置

IBM計算機：2.8G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，15寸液晶，56K調制解調器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機。

8

分析應用軟件

操作系統：Windows2000中文平臺

中文分析軟件包：SmartLink FP軟件包

－測厚范圍

可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用，我們將列表可測定的厚度范圍

－基本分析功能

無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti²² – U⁹²

可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

組成分析時，可同時測定15種元素

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較

元素光譜定性分析

－調整和校正功能

系統自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移

譜峰計數時，峰漂移自動校正功能

譜峰死時間自動校正功能

譜峰脈沖堆積自動剔除功能

標準樣品和實測樣品間，密度校正功能

譜峰重疊剝離和峰形擬合計算

－測量自動化功能

(要求XY程控機構)

鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”

多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式

測量位置預覽功能

激光對焦和自動對焦功能

－樣品臺程控功能

(要求XY程控機構)

設定測量點

One or Two Datumn (reference) Points on each file

測量位置預覽(圖表顯示)

－統計計算功能

平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖

數據分組、X-bar/R圖表

直方圖

數據庫存儲功能

－系統安全監測功能

Z軸保護傳感器

樣品室門開閉傳感器

操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師

－任選軟件

統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

材料鑒別和分類檢測

材料和合金元素分析

貴金屬檢測，如Au karat評價