15J測量顯微鏡
用途
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,用途如下:
1.直角坐標中測定長度,例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。
2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。
用途
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,用途如下:
1.直角坐標中測定長度,例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。
2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。
規格
物 鏡
|
目 鏡
|
顯微鏡
放大倍數
|
工作距離(mm)
|
視場直徑(mm)
|
||
放大倍數
|
焦距(mm)
|
放大倍數
|
焦距(mm)
|
|||
2.5X/0.08
|
43.40
|
10X
|
25.00
|
25X
|
58.84
|
5.6
|
10X/0.25
|
17.13
|
100X
|
7.81
|
1.4
|
主要規格
放大倍數:25X、100X
X軸移動測量范圍:50 mm
Y軸移動測量范圍:13 mm
測微器分度值:0.01mm(15JE型數顯:分度值0.001 mm)
測量臺轉動范圍:不限
測量臺刻度盤分度范圍:0°-360°
測量臺刻度盤之分度值:1°
測量臺刻度盤游標讀數示值:6’
測量精度
儀器示值誤差:±(5+L/15)μm
儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差
注:測量地點溫度變化(20±3)℃
L-被測件長度(mm)
儀器主要尺寸
測量臺與物鏡間之最大距離:80mm
測量工作臺直徑:120mm
儀器外形尺寸 262×220×325mm
X軸移動測量范圍:50 mm
Y軸移動測量范圍:13 mm
測微器分度值:0.01mm(15JE型數顯:分度值0.001 mm)
測量臺轉動范圍:不限
測量臺刻度盤分度范圍:0°-360°
測量臺刻度盤之分度值:1°
測量臺刻度盤游標讀數示值:6’
測量精度
儀器示值誤差:±(5+L/15)μm
儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差
注:測量地點溫度變化(20±3)℃
L-被測件長度(mm)
儀器主要尺寸
測量臺與物鏡間之最大距離:80mm
測量工作臺直徑:120mm
儀器外形尺寸 262×220×325mm
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