膜厚測試儀利用螢光X射線得到物質中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質的結晶信息(構造)。而透過X射線多用于拍攝醫學透視照片。另外也用于機場的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質信息而定X射線的種類。
X射線的能量穿過金屬鍍層的同時,金屬元素其電子會反射其穩定的能量波譜。通過這樣的原理,我們設計出:膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀,又稱金屬涂鍍層厚度測量儀,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應全球環保工藝準則,故目前市場上最普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。
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