多功能膜厚儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統,結合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量，除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量,測量電鍍槽內的金離子停含量的濃度也是十分簡單，只需要將藥水放進別外選購的測量杯便可以進行測量，這樣便可以隨時隨地的監察電鍍槽的藥水狀況如何，有效率地控制電鍍生產，測貴金屬成分可達到重復性約0.1%。是一款價優，并功能強大的儀器。