布魯克公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對(duì)光。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問題從此成為歷史！
新D8A的特點(diǎn)：
1、 采用新一代的陶瓷X光管技術(shù)，焦斑位置穩(wěn)定，衰減小，壽命長；而且該光管為標(biāo)準(zhǔn)尺寸，對(duì)用戶的限制小；因?yàn)椴捎玫氖欠忾]靶技術(shù)，后期維護(hù)非常方便；
2、全自動(dòng)可變狹縫，用戶可以自由選擇固定狹縫大小或固定測(cè)量面積模式；
3、 高精度立式測(cè)角儀，樣品水平放置，最小步長及角度重復(fù)性皆為0.0001o；測(cè)角儀精度保障：國際NIST 剛玉標(biāo)樣用戶現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，保證全譜范圍內(nèi)所有峰的角度偏差不超過±0.01o；
4、林克斯一維陣列探測(cè)器：相對(duì)與常規(guī)探測(cè)器強(qiáng)度提高150倍以上，靈敏度提高一個(gè)數(shù)量級(jí)
4.1、該探測(cè)器共由192個(gè)子探測(cè)器陣列組成，在相同條件下，與常規(guī)的閃爍計(jì)數(shù)器（或正比計(jì)數(shù)器）相比，強(qiáng)度增益（或速度增益）高達(dá)150倍以上，同時(shí)具有優(yōu)秀的分辨率及信噪比；
4.2、杰出的角度分辨率：基本上等同于采用0.1mm接受狹縫的點(diǎn)探測(cè)器的分辨率。在大幅提高強(qiáng)度的同時(shí)，保證了數(shù)據(jù)質(zhì)量；
4.3、良好的低角度測(cè)量：LynxEye探測(cè)器在充分吸收布魯克20多年的陣列探測(cè)器應(yīng)用的基礎(chǔ)上，基本克服了常規(guī)陣列探測(cè)器低角度性能欠佳的弱點(diǎn)；
4.4、優(yōu)異的能量分辨率：20％，無需單色器，即可有效去除含鐵樣品的熒光；
4.5、192個(gè)子探測(cè)器分別由單獨(dú)電路控制，確保無壞子探測(cè)器，可以做靜態(tài)掃描，尤其適合配了高溫原位分析附件的用戶；
4.8、用戶可隨意選擇子探測(cè)器開放個(gè)數(shù)，當(dāng)作點(diǎn)探測(cè)器使用，免去了點(diǎn)、線探測(cè)器互換的麻煩；
4.9、該探測(cè)器完全免維護(hù)，使用方便。
5、分析軟件：好用、功能強(qiáng)，所有參數(shù)調(diào)整采用動(dòng)態(tài)調(diào)整、所見即所得的方式，簡單、快捷
5.1、EVA檢索軟件
5.2、考慮樣品物理含義的重疊峰分離軟件；
5.3、TOPAS無標(biāo)樣定量分析軟件；
5.4、新一代的Rietveld結(jié)構(gòu)精修軟件及粉末衍射解結(jié)構(gòu)軟件，除了常規(guī)的模擬退火外，還提供最新的電荷反轉(zhuǎn)及三維傅立葉變換，在測(cè)量軟件上還提供了可變計(jì)數(shù)時(shí)間模式，以增加高角度信號(hào)強(qiáng)度。
6、在薄膜應(yīng)用上，布魯克的新D8A衍射儀，采用TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)入射及衍射光路上，狹縫到鏡子、狹縫到平行光狹縫的自動(dòng)切換，用戶只需在軟件上通過下拉菜單選擇需要的光學(xué)器件即可，解決了以前需要人工置換，重新對(duì)光的麻煩；
7、在點(diǎn)光源應(yīng)用上（包括微區(qū)、織構(gòu)、應(yīng)力），新D8A采用了TWIST TUBE技術(shù)，用戶可以直接將光管轉(zhuǎn)90度即刻完成點(diǎn)線光源的切換，而無需拆卸光管。
8、在原位分析應(yīng)用上，新D8A配備了高低溫一體化設(shè)計(jì)，溫度范圍-180oC到+1600oC，高低溫模塊之間的切換只需更換加熱模塊，而無需更換整個(gè)樣品臺(tái)；而且該樣品臺(tái)為高度自動(dòng)可調(diào)樣品臺(tái)，對(duì)于不同高度的樣品，均能應(yīng)付自如。